電阻測量儀表,電阻測量儀表廠家-北京恒奧德儀器儀表有限公司

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液氮治療儀/污垢熱阻測試儀/電測水位計/空盒氣壓表/污染數測定儀/薄膜過濾器/紫外輻照計/PH計/紫外分析儀/石油合成液抗乳化檢測儀

電工儀器儀表

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡介
	H8551土肥測試儀/土肥養分速測儀/土肥養分測試儀/土肥養分檢測儀/土肥養份速測儀	★ 按當地情況設定作物品種、作物產量、肥料品種，并自動計算出施肥量。 ★ 采用液晶中文大屏幕背光顯示，中文菜單提示操作，使用人員看即會。 ★ 檢測土壤、植株、化學肥料、生物肥料等樣品中的氮、磷、有效鉀、氮、磷、鉀、有機質含量，土壤酸堿度及土壤含鹽量。 ★ 旋轉比色測試裝置，可同時測多個樣品，為*。本儀器帶有自動充電能，交、直兩用，可行野外動測試，儀器主機自備內置式微型打印機，可通過本機將測試結果數據打印出來。
	KDK-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀四探針電阻率檢測儀四探針電阻率測定儀	便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定。它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。
	KDK-KDY-4四探針電阻率測試儀四探針電阻率檢測儀四探針電阻率儀KDK-KDY-4	KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的際標準（ASTM F84）及家標準制，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改。
	NDJDZ3500炭黑含量測試儀/炭黑測試儀/炭黑含量測定儀/碳黑含量測定儀	該儀器適用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的測定。炭黑的測試是通過試樣在氮氣保護下，溫分解后的重量分析得到的。該儀器具有使用方便，操作簡單，作可靠，測量準確，自動控溫等優點。
	QSY-TFC-1B土肥測試儀/土肥速測儀/土壤肥料測試儀/土肥養份測試儀/土壤養份測試儀/土壤養分測試儀/土壤分析儀	★ 檢測土壤、植株、化學肥料、生物肥料等樣品中的氮、磷、有效鉀、氮、磷、鉀、有機質含量。 ★ 養分比色與標準液同時行，濃度直讀，直接查表即知施肥量，不需繪制曲線。 ★ *采用旋轉式封閉六比色暗盒（家），提效6倍以上，避免反復調整儀器。次調零轉動比色槽可測四個樣品，只需幾分鐘。
	YY9-SOX2數字歐姆表/毫歐表	是傳統的QJ23型、QJ24型、QJ57型等單臂電橋的換代新產品。主要用于電線、電纜行業，電機，變壓器，電器等產品的直電阻測試。
	YDSOJ—2數字微歐計/微歐計	該數字微歐計是替代傳統的QJ44型雙臂電橋的新產品。主要用于測量變壓器、電動機、電線、電纜的直電阻
	XY-PTI-1光源預熱時間測試儀預熱時間測試儀測試儀	光源預熱時間測試儀為電腦自動測試儀器，可以行光源的預熱時間的測試，適合在水線上快速、方便地測出光源的預熱時間。
	XY-XYL-XI背投影機光色參數快速測試儀快速測試儀測試儀	儀器預設標準A光源及D65光源文件，并可根據用戶需求，由用戶意設定存儲標準光源。儀器可根據不同參考光源自動修正探測器的光譜參數誤差，達到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均勻性、色品坐標和色溫的測量。其測量度達到際水平。
	XY-XYI-XI正投影機光色參數快速測試儀快速測試儀測試儀	儀器預設標準A光源及D65光源文件，并可根據用戶需求，由用戶意設定存儲標準光源。儀器可根據不同參考光源自動修正探測器的光譜參數誤差，達到屏幕的總光通量、屏幕的光通量不均勻性、色品坐標和色溫的測量。其測量度達到際水平。
	XY-HA1LED光強分布測試儀光強分布測試儀測試儀	LED光強分布測試儀用于LED發光強度曲線分布測量?？蔀長ED提供各種電參數，該儀器具有計算機控制電調節，可自動快速測量等點。
	GSZ-CV-2000電容電壓性測試儀性測試儀測試儀	GSZ-CV-2000型電容電壓性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數字的電容測試儀器，用于測試半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
	GSZ-RTS-7二探針測試儀測試儀	該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料縱向電阻率的用儀器。儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
	GSZ-SP-601方型四探針探頭四探針探頭探頭	方型四探針探頭是種門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，用于測量小樣品的四探針探頭，可用于般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。
	GSZ-SRM-232方塊電阻測試儀電阻測試儀測試儀	方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。
	GSZ-XX-2方塊電阻測試儀電阻測試儀測試儀	方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。
	GSZ-RTS-3四探針測試儀測試儀	儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
	GSZ-ST-20方塊電阻測試儀電阻測試儀測試儀	方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。
	GSZ-ST-21方塊電阻測試儀電阻測試儀測試儀	該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成度穩源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。
	GSZ-SDY-5雙電測四探針測試儀四探針測試儀針測試儀	雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，從而提了測量結果的準確度。

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